供应说明
本系列试验设备是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，用于测试和确定电子电工、材料及其他产品在进行高温、低温或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。
箱体结构特点( High and low temperature test chamber )
箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。
箱体内胆采用进口**不锈钢（SUS304）镜面板，箱体外胆采用A3钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。
大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。
箱体左侧配直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。
控制器
温度控制采用全进口触摸按键式仪表，操作设定简单。(日本RKC)
资料及试验条件输入后，控制器具有锁定功能，避免人为触摸而改变温度值。
具有P.I.D自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温度控制更为精确稳定。
可选配打印机。
冷冻及风路循环系统
制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。
冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。
采用多翼式送风机**送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。
风路循环出风回风设计，风压风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。
升温、降温、系统完全独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。
符合标准：GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008
规格与技术参数
型号(CM) LP/GDW-100 LP/GDW-225 LP/GDW-500 LP/GDW-800 LP/GDW-010
工作室尺寸 45*45*50 50*60*75 80*70*90 80*100*100 100*100*100
外型尺寸 120*100*165 130*115*190 145*140*210 155*160*225 185*160*225
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